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TU Berlin

Inhalt des Dokuments

Lupe
On-Wafer-Messtechnik
> Messung der Rauschparameter (bis 26 GHz)

> S-Parameter-Charakterisierung (bis 50 GHz)


> 4-Port S-Parameter Messungen (bis 24 GHz)


> Skalare Messungen im mm-Wellenbereich (bis 90 GHz)


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